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電鏡樣品制備
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IM4000Ⅱ標準離子研磨儀使用低能量Ar離子束，加工無應力損傷的樣品截面，為SEM觀察樣品的內部多層結構、結晶狀態、異物解析、層厚測量等提供有效的樣品前處理方法
ArBlade5000 是日立離子研磨儀的高性能機型。它實現了超高速截面研磨。高效率截面加工功能，使電鏡截面觀察時樣品 加工更簡單。
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更新時間：2025-10-27
產品型號：IM4000Ⅱ
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更新時間：2025-10-26產品型號：瀏覽量：1180
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